<meter id="f517r"></meter>

    <em id="f517r"></em>

    <font id="f517r"></font>

    <menuitem id="f517r"></menuitem>

        <menuitem id="f517r"><video id="f517r"><listing id="f517r"></listing></video></menuitem>

            <menuitem id="f517r"><span id="f517r"><dfn id="f517r"></dfn></span></menuitem>
            <progress id="f517r"><address id="f517r"></address></progress>

              Products
              產品中心
              網站首頁  ◇  新聞資訊  ◇  x射線測厚儀的產品優勢和具體的功能要求
              x射線測厚儀的產品優勢和具體的功能要求
            1. 發布日期:2022-04-15     信息來源:公司新聞      瀏覽次數:185
              •    x射線測厚儀是一種專門應用于半導體材料、電子器件、微電子學、光通訊和數據儲存工業中的金屬薄膜厚度測量。測量更小、更快、更薄Ux-720比現有其它的XRF儀器可以測量更小的面積、更薄的鍍層和更加快速??蓽y試多鍍層,合金鍍層,能提供各類金屬層、合金層厚度的快速、準確、穩定、無損的測量。

                 
                  x射線測厚儀的產品優勢:
                  1、可進行未知標樣掃描、無標樣定性,半定量分析。
                 
                  2、操作簡單、易學易懂、精準無損、高品質、高性能、高穩定性,快速出檢測結果。
                 
                  3、可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
                 
                  4、鍍層檢測,至多鍍層檢測可達5層,精度及穩定性高。
                 
                  5、激光定位和自動多點測量功能。
                 
                  6、可檢測固體、粉末狀態材料。
                 
                  7、運行及維護成本低、無易損易耗品,對使用環境相對要求低。
                 
                  x射線測厚儀具體的功能要求如下:
                 ?。?)控制C型架拖動電機的運行,實現C型架的前進、后退以及精確定位等動作;
                 
                 ?。?)控制X光機快門的開關,監測測厚儀的電源、冷卻系統以及紅外傳感器的工作狀態,實現人機的安全聯鎖;
                 
                 ?。?)與數據采集系統進行通信,完成厚度數據以及工作狀態的傳遞,實現測厚儀的標準塊校正和標準模式下的測量控制;
                 
                 ?。?)控制標準塊驅動電機。在校正模式和標準模式下完成標準塊的正常旋轉;
                 
                 ?。?)設計簡單、高效的人機界面,監測系統的運行狀態,輸人系統的運行參數。

              在線客服
              在線客服
              色五月一区二区,色五月综合网,色一情一乱一伦免费视频,色一情一乱一伦视频,色一情一乱一伦视频免费看
              掃一掃訪問手機站掃一掃訪問手機站
              訪問手機站